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METTLER梅特勒分析天平XS205DU

  • 产品型号:
  • 更新时间:2024-11-13

简要描述:参数名称参数值量程双量程1/2称量1)四角

产品详情

参数名称    参数值

量程    双量程1/2称量1)   四角.3mg
可读性    0.01/0.1mg灵敏度漂移    0.0004%
称量值    81/220g灵敏度温度漂移2)   0.00015%/℃
称量值重复性(s)    0.1 mg灵敏度稳定性3)   0.0002%/a
10g重复性(s)    0.02mg典型称量时间4)   6s
线性    ±0.2mg接口更新速率    23/s
秤盘尺寸(mm)    78×731)按照OIML76标准
2)温度范围10 …30℃
3)灵敏度漂洗/年(天平使用后),激活FACT全自动校准技术 
4)包括样品处理时间设置
防风罩有效高度(mm)  

  235

天平外形尺寸(W×D×H)(mm)  

  263×453×322

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